Skenovací mikroskop Dimension ICON

Přístroj slouží k:

Zařízení pro charakterizaci topografie a vlastností povrchů materiálů.
Skenovací sondový mikroskop (SPM) s následujícími módy měření a možnostmi:
SPM mikroskop skenuje hrotem a je vybaven stolkem s možností skenování rozměrných vzorků (až 210 mm průměr a 15 mm tloušťka)
Šum SPM skeneru při zapnutém „closed loop" režimu je menší než 0,15 nm RMS
SPM kontroler umožňuje sběr dat z osmi kanálů simultánně, s rozlišením 5 Mpix
SPM systém je schopen měření v těchto modech: Kontaktní, Poklepový, Fázový kontrast, Laterárních sil, Silové spektroskopie, Modulované síly, Elektrického pole, Magnetické síly, Povrchového potenciálu (Kelvinova sonda), Vodivostní AFM a Tunelovací AFM
SPM systém umožňuje nanoindentační měření pomocí diamantového hrotu.